日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪|FT,MAXXI和X-Strata系列
日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪简介：
微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪|FT,MAXXI和X-Strata系列提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al到92U的固体或液体样品。
日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪应用：
■微焦斑 XRF 光谱仪应用于 PCB、半导体和电子行业
▲PCB / PWB 表面处理
控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据IPC 4556和IPC 4552A测量非电镀镍（EN，NiP）电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营，确保高质量并避免昂贵的返工。
▲电力和电子组件的电镀
零件必须在规格范围内被电镀，以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-Strata和MAXXI系列产品 ，可以测量小的试片或连续带状样品，从而达到 引线框架（引线框架）、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。
▲IC 载板
半导体器件越来越小巧而复杂，需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析，及重复性好的数据。
▲服务电子制造过程 （EMS、ECS）
结合 采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点，实现从进厂检查到生产线流程控制，再到*终质量控制。日立分析仪器的微焦斑XRF产品帮助您在全生产链分析组件、焊料和*终产品，确保每个阶段的质量。
▲光伏产品
对可再生能源的需求不断增加，而光伏在收集太阳能量方面扮演着重要的角色。有效收集这种能量的能力一部分取决于薄膜太阳能电池的质量。微束XRF可帮助保证这些电池镀层的准确度和连贯性，从而确保*高效率。
▲受限材料和高可靠性筛查
与复杂的全球供应链合作，验证和检验从供应商处收到的材料至关重要。使用日立分析仪器的XRF技术，根据IEC 62321方法检验进货是否符合RoHS和ELV等法规要求，确保高可靠性涂镀层被应用于航空和**领域。
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X-Strata920 |
X-Strata920 |
FT110A |
MAXXI 6 |
FT150高分辨率 SDD毛细管聚焦光学系统 |
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ENIG |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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ENEPIG |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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非电镀镍厚度和组成 (IPC 4556, IPC 4552) |
无 |
★★☆ |
无 |
★★★ |
★★★ |
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非电镀镍厚度 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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浸镀银 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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浸镀锡 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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HASL |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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无铅焊料（如 SAC) |
★☆☆ |
★★☆ |
★☆☆ |
★★★ |
★★★ |
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CIGS |
无 |
★★☆ |
无 |
★★★ |
★★★ |
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CdTe |
无 |
★★☆ |
无 |
★★★ |
★★★ |
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纳米级薄膜分析 |
无 |
★★☆ |
无 |
★★★ |
★★★ |
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多层分析 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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IEC 62321 RoHS 筛选 |
无 |
无 |
无 |
★★★ |
无 |
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检测特征 < 50 μm |
无 |
无 |
无 |
无 |
★★★ |
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模式识别软件 |
无 |
无 |
★★★ |
无 |
★★★ |
■微焦斑XRF光谱仪应用于金属表面处理
▲耐腐蚀性
检验所用涂层的厚度和化学性质，以确保产品在恶劣环境下的功能性和使用寿命。轻松处理小紧固件或大型组件。
▲耐磨性
通过确保磨蚀环境中关键部件的涂层厚度和均匀度，预防产品故障。复杂的形状、薄或厚的涂层和成品都可被测量。
▲装饰性表面
当目标是实现无瑕表面时，整个生产过程中的质量控制至关重要。通过日立分析仪器的多种测试设备，您可以可靠地检测基材，中间层和顶层厚度。
▲耐高温
在极端条件下进行的零件的表面处理必须被控制在严格公差范围内。确保符合涂镀层规格、避免产品召回和潜在的灾难性故障。
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X-Strata920正比计数器 |
X-Strata920高分辨率SDD |
FT110A正比计数器 |
MAXXI 6高分辨率SDD |
FT150 高分辨率SDD |
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Zn / Fe, Fe 合金
Cr / Fe, Fe 合金 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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ZnNi / Fe, Fe 合金 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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NiP / Fe |
★★☆ |
★★☆ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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Ag / Cu |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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Cr / Ni / Cu / ABS |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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Au / Pd / Ni /CuZn |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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WC / Fe, Fe 合金 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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纳米级薄膜分析 |
无 |
★★☆ |
无 |
★★★ |
★★★ |
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多层分析 |
★★☆ |
★★★ |
★★☆ |
★★★ |
★★★ |
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IEC 62321 RoHS 筛选 |
无 |
无 |
无 |
★★★ |
无 |
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DIM可变焦测试系统 |
无 |
无 |
★★★ |
无 |
无 |
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模式识别软件 |
无 |
无 |
★★★ |
无 |
无 |
日立微焦斑XRF光谱仪_微束X射线荧光涂层厚度和材料分析仪产品型号：
1、X-Strata920
→正比计数器或高分辨率 SDD
→元素范围：钛 - 铀，或铝 - 铀（SDD）
→样品舱设计：开槽式
→XY 轴样品台选择： 固定台、加深台、自动台
→*大样品尺寸：270 x 500 x 150毫米
→*大数量准直器：6
→滤光片：1
→*小的准直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
→SmartLink 软件
2、FT110A
¨正比计数器系统
¨元素范围：钛 - 铀
¨样品舱设计：开闭式或开槽式
¨XY 轴样品台选择： 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台
¨*大样品尺寸：500 x 400 x 150 毫米
¨*大数量准直器：4
¨滤光片：1
¨*小的准直器：0.05 毫米
¨X-ray Station 软件
3、MAXXI 6
?高分辨率 SDD
?元素范围： 铝 - 铀
?样品舱设计：开槽式
?XY 轴样品台选择：固定台、自动台
?*大样品尺寸：500 x 450 x 170毫米
?*大数量的准直器：8
?滤光片：5
?*小的准直器： 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)
?SmartLink 软件
4、FT150
?高分辨率 SDD
?元素范围： 铝 - 铀
?样品舱设计：开闭式
?XY 轴样品台选择：自动台、晶片样品台
?*大样品尺寸：600 x 600 x 20 毫米
?滤光片：1 或 3
?毛细聚焦管 < 20 μm
?XRF控制软件
